A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀
更新時(shí)間:2024-08-07
型號(hào):
瀏覽量:1243
A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測(cè)。低檢測(cè)下限可達(dá)0.08µm ,在全球同類(lèi)產(chǎn)品中都處于先地位。
大量程激光粒度儀A22的推出,可以替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀,讓您一次使用中可以同時(shí)獲得過(guò)去三臺(tái)機(jī)器的全部功效,使用更加便捷。
了解詳情